2025年年度报告摘要

深圳精智达技术股份有限公司2025 年年度报告摘要公司代码：688627公司简称：精智达深圳精智达技术股份有限公司2025 年年度报告摘要深圳精智达技术股份有限公司2025 年年度报告摘要第一节 重要提示1、 本年度报告摘要来自年度报告全文，为全面了解本公司的经营成果、财务状况及未来发展规划，投资者应当到 www.sse.com.cn 网站仔细阅读年度报告全文。2、 重大风险提示公司已在本报告中详细描述公司在经营过程中可能面临的各种风险及应对措施，敬请查阅本报告“第三节 管理层讨论与分析”之“四、风险因素”中相关内容。3、 本公司董事会及董事、高级管理人员保证年度报告内容的真实性、准确性、完整性，不存在虚假记载、误导性陈述或重大遗漏，并承担个别和连带的法律责任。4、 公司全体董事出席董事会会议。5、 大华会计师事务所（特殊普通合伙）为本公司出具了标准无保留意见的审计报告。6、 公司上市时未盈利且尚未实现盈利□是 √否7、 董事会决议通过的本报告期利润分配预案或公积金转增股本预案2025年度，公司以实施权益分派股权登记日登记的总股本扣除公司回购专户中的股份数为基数，拟向全体股东每10股派发现金红利人民币2.24元（含税）。截止2026年4月9日，公司总股本94,011,754股，扣除公司回购专用账户中股份总数为211,477股后的股本93,800,277股为基数，以此计算拟派发现金红利总额为人民币21,011,262.05元（含税）。本次现金分红金额占合并报表中归属于上市公司股东的净利润比例为32.12%。在本报告披露之日起至实施权益分派股权登记日期间，公司总股本发生变动的，公司拟维持每股分配比例不变，相应调整分配总额。上述利润分配方案已经公司第四届董事会第十二次会议审议通过，尚需提交公司股东会审议批准。母公司存在未弥补亏损□适用 √不适用8、 是否存在公司治理特殊安排等重要事项□适用 √不适用深圳精智达技术股份有限公司2025 年年度报告摘要第二节 公司基本情况1、 公司简介1.1 公司股票简况√适用 □不适用公司股票简况股票种类股票上市交易所及板块股票简称股票代码变更前股票简称A股上海证券交易所科创板精智达688627不适用1.2 公司存托凭证简况□适用 √不适用1.3 联系人和联系方式董事会秘书证券事务代表姓名彭娟黄琳惠联系地址深圳市龙华区龙华街道清湖社区清湖村富安娜公司1号101工业园D栋1楼东深圳市龙华区龙华街道清湖社区清湖村富安娜公司1号101工业园D栋1楼东电话0755-210583570755-21058357传真//电子信箱jzd@seichitech.comjzd@seichitech.com2、 报告期公司主要业务简介2.1 主要业务、主要产品或服务情况公司作为专注于半导体测试检测设备及系统解决方案的创新企业，以实现关键设备自主可控为核心目标，着力构建系统化全站点服务能力。秉持“不断提供最优质的产品和服务、坚持技术创新、创造价值以助力社会进步”的企业使命，公司聚焦技术创新，持续深耕半导体行业需求。1、半导体测试解决方案公司的半导体测试方案主要面向 DRAM 等存储器领域，覆盖晶圆制造环节的裸片电性能与功能测试，以及封装测试环节的芯片颗粒电参数测试、功能测试、老化及修复，确保产品符合设计规范。此外，公司还推出了算力芯片测试设备，旨在提升 SoC 芯片的测试效率与精度、降低测试成本，进一步丰富产品布局。公司的半导体存储器件测试解决方案涵盖晶圆测试设备、老化测试及修复设备、FT 测试机、MEMS 探针卡及其他测试配件。主要产品如下：（1）存储器晶圆测试设备主要产品名称产品简介产品图示深圳精智达技术股份有限公司2025 年年度报告摘要晶圆测试机针对 DRAM 晶圆在封装前的功能指标测试、电学参数测试及缺陷修复需求，提供专用的晶圆测试设备解决方案MEMS 探针卡主要用于晶圆测试时实现测试机与被测芯片的电气联接，通过传输信号对芯片参数进行测试（2）存储器老化测试及修复设备主要产品名称产品简介产品图示老化测试及修复设备对封装后的芯片颗粒进行高低温与大电流环境下的老化测试，在测试中对颗粒内部缺陷进行修复老化测试及修复治具板主要用于连接封装后 DRAM 芯片和老化测试BI 设备，是老化测试及修复设备中重要的部件（3）存储器封装测试设备主要产品名称产品简介产品图示DRAM FT测试机对封装后的 DRAM 颗粒进行功能与高速接口与功能测试DRAM 通用测试验证系统(UDS)面向 DRAM 设计及制造企业研发的紧凑型便携式可移动测试系统2、新型显示器件检测解决方案公司的新型显示器件检测解决方案主要用于 AMOLED、TFT-LCD、微显示等新型显示器件的 Cell与 Module 制程的光学特性、显示缺陷、电学特性等各种功能检测及校准修复，用于产品缺陷检测、产品等级判定与分类，对部分产品缺陷进行校准、修复及复判，从而提升产品良率、降低生产损耗，并为相关工序的工艺提升提供数据支撑。公司的新型显示器件检测解决方案主要包括光学检测及校正修复系统、老化系统、信号发生深圳精智达技术股份有限公司2025 年年度报告摘要器及检测系统配件等，具体情况如下：（1）光学检测及校正修复系统主要产品名称产品简介产品图示Wafer AOI 设备对硅基 Micro LED/OLED 点亮后的光、电性能进行拍照分析，应用于 Wafer 段点灯工序的功能与缺陷检测，适用 XR 检测Cell 光学检测设备主要用于新型显示器件 Cell 制程的自动对位压接、白平衡调节、点灯/外观缺陷 AOI 检测、自动分类分级下料等工序Module光学检测设备主 要 用 于 新 型 显 示 器 件 Module 制 程 的Gamma 调节、AOI 检查、外观检查等工序Gamma 调节设备主 要 用 于 新 型 显 示 器 件 Module 制 程 的Gamma 调节Micro LED/OLED 模组AOI 检测设备主 要 用 于 封 装 后 Micro LED/OLED 模 组 的Mura 补偿，及点灯与外观缺陷 AOI 检测（2）老化系统主要产品名称产品简介产品图示Cell 老化设备主要用于新型显示器件 Cell 制备后的点亮老化Module 老化设备主要用于新型显示器件 Module 开发设计过程中的例行试验，以及量产过程中的检验深圳精智达技术股份有限公司2025 年年度报告摘要Micro LED 老化设备主要用于新型显示器件 Module 在点亮状态下的品质验证与老化测试，提供温度环境以确认可靠性，适用 XR 检测Micro OLED 老化设备用于新型显示器件 Module 开发设计及量产中、产品点亮状态下的品质验证和老化测试，提供温度运行环境以确认产品的品质可靠性，适用 XR 检测（3）信号发生器及光学仪器主要产品名称产品简介产品图示Cell 信号发生器主要用于新型显示器件 Cell 制程的检测信号及电源供给，可用于点灯检测及老化等工序Module 信号发生器主要用于新型显示器件 Module 制程，可用于点灯检测、Gamma 调节、Mura 补偿及老化等工序老化测试信号发生器主要用于 AR 显示模组产品高温/常温老化测试等应用场景微